DSC差示掃描一體量熱儀 DZ3320A (DTA)差熱分析儀
產(chǎn)品名稱: DSC差示掃描一體量熱儀 DZ3320A (DTA)差熱分析儀
產(chǎn)品型號: BXT-DTA1250
產(chǎn)品展商: BAXIT巴謝特
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
差熱分析是在程序控制溫度下,測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中,樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如:相轉(zhuǎn)變,熔化,結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變,沸騰,升華,蒸發(fā),脫氫反應,斷裂或分解反應,氧化或還原反應,晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學反應。
DSC差示掃描一體量熱儀 DZ3320A (DTA)差熱分析儀
的詳細介紹
巴謝特BXT-DTA1250差熱分析儀
產(chǎn)品介紹:
差熱分析是在程序控制溫度下,測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中,樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如:相轉(zhuǎn)變,熔化,結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變,沸騰,升華,蒸發(fā),脫氫反應,斷裂或分解反應,氧化或還原反應,晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學反應。
儀器特點:
1.儀器主控芯片采用Cortex-M3內(nèi)核ARM控制器,運算處理速度更快,溫度控制更jingque。
2.采用USB雙向通訊,操作更便捷。
3.采用7寸24bit色全彩LCD觸摸屏,界面更友好。
4.采用鎳鉻合金傳感器,更耐高溫、抗腐蝕、抗氧化。
技術參數(shù):
1.溫度范圍:室溫~1150℃
2.量程范圍: 0~±2000μV
3. DTA精度: 0.01μV
4.升溫速率: 1~80℃/min
5.溫度分辨率: 0.1℃
6.溫度準確度: ±0.1℃
7.溫度重復性: ±0.1℃
8.溫度控制:升溫:程序控制 可根據(jù)需要進行參數(shù)的調(diào)整
恒溫:程序控制 恒溫時間任意設定
9.爐體結(jié)構(gòu):爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu),代替了傳統(tǒng)的升降爐體,精度高,易于操作
10.氣氛控制:內(nèi)部程序自動切換
11.數(shù)據(jù)接口:標準USB接口 配套數(shù)據(jù)線和操作軟件
12.顯示方式: 24bit色7寸LCD觸摸屏顯示
13.參數(shù)標準:配有標準物,帶有一鍵校準功能,用戶可自行對溫度進行校正
14.基線調(diào)整:用戶可通過基線的斜率和截距來調(diào)整基線
15.工作電源: AC 220V 50Hz